تفاصيل الوثيقة

نوع الوثيقة : مقال في مؤتمر 
عنوان الوثيقة :
قياسات الميكرويف العازل الكهربي لمادة السليكون نترايت عند درجات حرارة عالية
Microwave Dielectric Properties Measurements of Silicon Nitride at High Temperature
 
الموضوع : الفيزياء 
لغة الوثيقة : العربية 
المستخلص : سوف يتم قياس خواص العازل الكهربي لمادة السيراميك (SiN السيليكون نترايت) في مدى ترددات الميكروويف بواسطة جهازي الفجوة الرنينية ( Cavity Perturbation technique) حيث تم بناء الجهاز الأول في جامعة نوتنجهام ببريطانيا والآخر تم بناؤه في جامعة الملك عبد العزيز بالمملكة العربية السعودية، ويعمل هذين الجهازين في مدى ترددات معينة في مجال ترددات الميكروويف(615 ميجاهيرتز و 1412 ميجاهيرتزو 2214 ميجاهيرتز و 3017 ميجاهيرتز و 3820 ميجاهيرتز) عند درجات حرارة عالية تبدأ من 20 إلى 20000 درجة مئوية. نتائج هذه القياسات سوف تعطى فكرة واضحة عن التغيرات التي تحدث لمادة السيراميك SiN في المدى الصناعي لترددات الميكروويف وعند درجات حرارة عالية جداً وذلك نتيجة لقياس مركبات معامل السماحية (ε) لهذه المادة وهو ما يعرف بخواص العازل الكهربي للمواد (Dielectric properties). باستخدام الجزء التخيلي من معامل السماحية المركب سوف تحسب معاملات الخواص الكهربية،  وطاقة التنشيط، Ea، ومعامل التردد الأسي n ، 0 ، إن دراسة التغيرات للخواص الكهربائية المقاسة والمحسوبة يساعد على فهم التفاعل الذي يحدث بين جزيئات المواد وأشعة الميكروويف مما يؤدي إلى التحكم في عمليات استخدام الميكروويف في تصنيع مواد السيراميك. 
اسم المؤتمر : المؤتمر السعودي الثاني للعلوم 
الفترة : من : 24محرم هـ - إلى : 26محرم هـ
من : 15مارس م - إلى : 17مارس م 
سنة النشر : 1425 هـ
2004 م 
عدد الصفحات : 12 
نوع المقالة : مقالة علمية 
مكان الانعقاد : كلية العلوم 
الجهة المنظمة : جامعة الملك عبد العزيز 
تاريخ الاضافة على الموقع : Saturday, January 17, 2009 

الباحثون

اسم الباحث (عربي)اسم الباحث (انجليزي)نوع الباحثالمرتبة العلميةالبريد الالكتروني
ثريا عبد القادر باعراقيBAERAKY, N/A N/Aباحث  

الملفات

اسم الملفالنوعالوصف
 49.pdf pdf 

الرجوع إلى صفحة الأبحاث